18世纪法国科学家菲涅耳(Fresnel)用双棱镜将一束相干光的波前分成两部分形成分波面干涉，利用测量干涉条纹间距(毫米量级)，求得光的波长(纳米量级)。目前很多物理实验教科书都将该方法带入课堂，测量激光之波长。本双梭镜光干涉实验仪具有这方面的功能。
本仪器有以下优点
☆配有半导体激光(650.0nm)单色光源，半导体激光经偏振片处理可以将光强降低到适当的强度，有既具相干性又不伤害眼睛的优点，可很方便调出图像清晰干涉条纹。
☆导软和转盘采用高强度优质铝合余材料、不会生锈、经久耐用。
本仪器可完成以下实验
☆观察双棱镜的干涉现象
☆测量激光器的波长。
☆也可以换其他光源进行双棱镜干涉实验。
仪器主要配置
☆导轨（长100.0cm，分度值1mm，可为用户特制尺寸）、配有左右横向平移支架（最大移程40mm）、测微目镜（或高清CCD）
☆FB760/F型采用高清CCD摄像液晶屏显示替代传统的测微目镜。
